Le phénomène de l'intimidation en milieu scolaire : pistes d'intervention pour le counseling de carrière.

De façon générale, l'école se veut source d'enrichissement, de belles découvertes et de création de nouvelles amitiés. Cependant, pour grand nombre d'élèves qui sont victimes d'intimidation en milieu scolaire, ce parcours scolaire se vit dans la peur, l'anxiété et la solitude. Les conséquences vécues auront aussi un impact sur l'orientation professionnelle de ces jeunes, dont l'altération du concept de soi, qui aurait une influence sur le développement de carrière (Super, 1963, dans Bujold, et Gingras, 2000). On parle aussi de l'anxiété qui occuperait un rôle dans l'indécision vocationnelle (Forner, 2007), ainsi que la destruction de relations sociales essentielles pour l'exploration de soi et l'exploration de son environnement (Bluestein et Felsman, 1999), et l'absence de sentiment de sécurité pouvant influencer la prise de décision (Blusstein, Préziozo et Schultheiss, 1995; Hall, Moradi, Tokar et Withrow, 2003, dans Savard, 2008). Par cette analyse, la question de recherche suivante est formulée : quelles sont les pistes d'intervention possibles pour les conseillères et les conseillers d'orientation qui interviennent auprès des élèves victimes d'intimidation en milieu scolaire? Le deuxième chapitre est consacré à la définition des concepts étudiés pour parvenir à répondre à la question de recherche. Au troisième chapitre, la méthodologie permettant d'effectuer le parallèle entre les concepts étudiés et l'intervention en counseling de carrière est présentée. Au quatrième chapitre, les pistes d'intervention possibles pour les conseillères et les conseillers d'orientation sont identifiées. Finalement, en guise de conclusion, il y a l'identification des limites de cet étude et des éléments qu'éclaire cette recherche sur le plan de l'orientation et de la recherche en général, ainsi que les études pouvant s'ensuivre

Design for additive manufacturing: trends, opportunities, considerations, and constraints

© 2016 CIRP. The past few decades have seen substantial growth in Additive Manufacturing (AM) technologies. However, this growth has mainly been process-driven. The evolution of engineering design to take advantage of the possibilities afforded by AM and to manage the constraints associated with the technology has lagged behind. This paper presents the major opportunities, constraints, and economic considerations for Design for Additive Manufacturing. It explores issues related to design and redesign for direct and indirect AM production. It also highlights key industrial applications, outlines future challenges, and identifies promising directions for research and the exploitation of AM's full potential in industry

Forward and Reverse primers used for RT-qPCR experiments.

<p>Forward and Reverse primers used for RT-qPCR experiments.</p

Comparison of circadian/activity parameters of neuronal specific overexpression (OE) of <i>dHNF4</i> (<i>ELAV-GS-GAL4</i>>UAS-<i>dHNF4</i>) with age-matched controls.

<p>Induction of GAL4 (OE) started at 1 week of age and flies were tested at 3 weeks of age (2 week treatment period) with 200μM of RU486. (<b>A</b>), Day Sleep bout number; (<b>B</b>), Day activity counts (per 12h period); (<b>C</b>), Total activity count (per 24h period); (<b>D</b>), Day activity (min per 12h); (<b>E</b>) Night activity (min per 12h) and (<b>F</b>) Total activity (min per24h)(**p<0.01, ***p<0.001, ****p<0.0001; SEM is indicated with n = 48 flies; Paired Student’s <i>t</i>-test).</p

Visualization 1: MHz frame rate hard X-ray phase-contrast imaging using synchrotron radiation

Electric arc ignition Originally published in Optics Express on 12 June 2017 (oe-25-12-13857

Megahertz pulse trains enable multi-hit serial femtosecond crystallography experiments at X-ray free electron lasers

The European X-ray Free Electron Laser (XFEL) and Linac Coherent Light Source (LCLS) II are extremely intense sources of X-rays capable of generating Serial Femtosecond Crystallography (SFX) data at megahertz (MHz) repetition rates. Previous work has shown that it is possible to use consecutive X-ray pulses to collect diffraction patterns from individual crystals. Here, we exploit the MHz pulse structure of the European XFEL to obtain two complete datasets from the same lysozyme crystal, first hit and the second hit, before it exits the beam. The two datasets, separated by <1 µs, yield up to 2.1 Å resolution structures. Comparisons between the two structures reveal no indications of radiation damage or significant changes within the active site, consistent with the calculated dose estimates. This demonstrates MHz SFX can be used as a tool for tracking sub-microsecond structural changes in individual single crystals, a technique we refer to as multi-hit SFX